Formation Maîtrise statistique des processus (MSP-SPC)

Objectif général : Développement des compétences

Objectifs Acquérir la connaissance méthodologique et pratique de la Maîtrise Statistique des Processus (MSP/SPC) et des différents types de cartes de contrôle Compétences visées - Connaître les concepts de capabilité de la mesure et de capabilité du procédé - Découvrir les cartes de contrôle : principe, construction, suivi - Maîtriser les principales cartes de contrôle et être capable de les mettre en oeuvre dans un logiciel

Contenu

Introduction générale - Préalable à la Maîtrise Statistique des Processus (MSP/SPC) : la capabilité de la mesure Notions de métrologie Sources de variation - Causes communes (aléatoires) causes spéciales (assignables) Introduction aux études d'incertitudes (gage R&R) - La capabilité du procédé Introduction au Six Sigma Indice de capabilité Cp et Cpk Calculs dans le cas de paramètres ne suivant pas la loi Normale - Les cartes de contrôle Les principes de la carte de contrôle Construction d'une carte de contrôle : mode d'échantillonnage et calcul des limites de contrôle à partir d'une période de référence Différences entre limites de contrôle et limites de spécification Le taux de fausses alarmes dans le cas gaussien (loi Normale) Les règles de Western Electric pour déterminer si un procédé est hors-contrôle Les différents types de cartes de contrôle Cartes simples de type individuelles Cartes de Shewhart (moyenne / dispersion) pour la détection de déréglages rapides : Xbar/R, Xbar/S Cartes CUSUM et de type EWMA (moyennes mobiles) pour la détection de déréglages lents Cartes aux attributs de type cartes P ou cartes C Cartes multivariées (T2 de Hotelling) Cartes de contrôle sous hypothèses non-standards Différentes sources de variation Limites de contrôle dans le cas de paramètres non gaussiens Données auto-corrélées Réaction en cas de hors-contrôle La Maîtrise Statistique des Processus dans l'Entreprise

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Maîtrise statistique des processus (MSP-SPC) - cartes de contrôle

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PARIS

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